上海电源寿命那家好选衡孚

上海电源寿命那家好选衡孚供

加速试验是一种通过加速应力实现产品快速老化并获取产品老化信息的试验方法。加速试验可靠性分析则是一种旨在建立加速老化信息与产品可靠度及寿命对应关系的分析方法。本文以快速准确预测出LED产品寿命信息,并将其反馈回生产过程,从而指导生产工艺改进为目标。针对LED在常规老化失效试验中具有的试验周期长和经济成本高的缺点。就LED关键组件驱动电源的加速寿命预测问题与其对整灯寿命影响问题展开研究。(1)本文针对驱动电源对整灯寿命影响分析的问题,提出针对驱动电源的实验组与对照组的子系统隔离加速试验方法。针对LED驱动电源的寿命预测问题,基于研究对象的高保密性特点,采用伪黑箱测试方法进行试验。同时设计针对驱动电源性能退化参数选择的辅助试验。搭建试验平台,建立光通量数据库和电参数数据库,为后续研究提供数据支持。(2)分析LED驱动电源的驱动及控制方式,确定研究驱动电源的结构特性。本文利用Pspice对经典拓扑结构的驱动进行温度仿真分析,仿真结果验证了在温度应力下基于板级输出电参数进行寿命预测和可靠性分析的可行性。同时利用基于Sperman相关系数的Daniel检验方法对三种板级输出电参数和经过平滑处理后的短时电流数据的变化趋势进行分析,确定板级输出电流为性能退化参数。(3)为了定性的给出LED集成驱动电源对基于光通量的整灯寿命的影响。本文首先建立LED样本个体寿命模型,利用一元非线性拟合计算个体寿命。然后针对样本总体建立Weibull寿命分布统计模型,并对个体寿命数据和失效概率数据进行线性变换,通过**小二乘回归分析的方法,求出两组试验LED样本的统计寿命。***对数据处理结果进行预测区间分析,残差分析和残差置信区间分析。结果表明,类线性LED集成驱动电源对基于光通量整灯寿命的影响甚微。(4)为了对LED集成驱动电源进行寿命预测,建立基于电流退化增量的统计分布模型。本文首先对电流退化增量进行P-P图检验和KS检验,结合Arrhenius加速模型建立基于Wiener-Einstein过程的统计模型,利用极大似然估计法,估计模型参数。然后为了在大范围内,外推出常温下的产品可靠性和减少样本需求量,提出改进的统计模型和结合MCMC算法的参数估计方法。***在整灯寿命约束下给出LED驱动电源寿命预测的相关结果。